IM3570 Hioki阻抗分析儀

Hioki IM3570阻抗分析儀，寬帶4Hz-5Mz，用于高速測試和掃頻

特點:

用于高速測試和掃頻的單器件解決方案

Hioki IM3570阻抗分析儀、LCR計和阻抗分析儀能夠在一臺測量儀器中測量4 Hz至5 MHz的頻率和5 mV至5 V的測試信號電平。高級功能包括使用交流信號的LCR測量、使用直流(DCR)的電阻測量以及持續改變測量頻率和測量水平的掃描測量。

IM3570有助于在不同的測量條件和測量模式下進行高速連續測量，因此到目前為止需要多臺測量儀器的檢測線只需配備一臺設備即可。

測量時間縮短

與以前的型號相比，測量時間縮短了，在LCR模式下實現了1.5毫秒(1 kHz)和0.5毫秒(100kHz)的較大速度。(顯示器關閉時，顯示器打開時，時間增加0.3毫秒)。與以前的Hioki產品(基本速度為5毫秒的3522-50和3532-50)相比，這在速度上有了顯著的提高。快的速度有助于增加測試數量。此外，掃描測量需要測量多個點，實現了每個點0.3毫秒的快速速度。

低阻抗測量精度提高

與之前的Hioki產品相比，在低阻抗測量過程中，重復精度提高了一位數。例如，當條件為1mω(1v，100 kHz)且測量速度適中時，可以實現重復精度(變化)為0.12%的穩定測量，因此該儀器適合100 kHz ESR測量。

電感器(線圈和變壓器)的DCR和L-Q測量

該儀器能連續測量L-Q (1 kHz，1mA恒流)和DCR，并在同一屏幕上顯示數值。電流相關元件，例如包含磁芯的線圈，其電感值根據施加的電流而變化，可以用恒定電流(CC)進行測量。與以前的產品相比，在低阻抗測量過程中，重復精度提高了一位數，因此可以穩定測量DCR。

與之前的Hioki產品相比，通過提高0°的測量精度，可以對0°接近90°的高Q和Rs值進行絕對精度和一位數重復精度的測量。

產品特點:

LCR，DCR，掃描，和連續測量與高速測試在一個單一的單位

在LCR模式下，較大測試速度為1.5毫秒(1 kHz)和0.5毫秒(100kHz)

Z參數基本精度高:0.08%

非常適合測試壓電元件的諧振特性、功能性聚合物電容器的C-D和低ESR測量、電感器(線圈和變壓器)的DCR和L-Q測量

在分析儀模式下執行頻率掃描、電平掃描和時間間隔測量

支持測量條件的高速切換