產品概述

是德科技E4991A射頻阻抗/材料分析儀提供終阻抗測量性能和強大的內置分析功能。它將為評估3 GHz范圍內元件的R&D元件和電路設計提供創新。E4991A使用RF-IV技術，而不是反射測量技術，在較寬的阻抗范圍內進行精確的阻抗測量。基本阻抗精度為+/-0.8%。高Q精度支持低損耗元件分析。內部頻率合成器以1 mHz的分辨率掃描1 MHz至3 GHz的頻率。

材料評估:Agilent E4991A在寬頻率范圍(1 MHz至1 GHz)內提供全面的電介質/磁性材料測量解決方案。

晶片上測量:是德科技E4991A-010(安捷倫)探針臺連接套件使我們能夠輕松地將是德科技E4991A(安捷倫)連接到Cascade Microtech的射頻探針系統，以進行晶圓阻抗測量。

溫度特性評估:溫度特性測試套件E4991A-007是一種用于測量元件和材料溫度特性的新解決方案。該選項在-55°C至+150°C的寬溫度范圍內提供高度精確的溫度特性分析能力，并具有強大的溫度漂移補償功能。

是德科技E4991A射頻阻抗/材料分析儀的主要規格包括:

基本精度:

+/- 0.8 %基本精度

掃描參數

頻率:1兆赫至3千兆赫

振蕩器電平:較高1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms

DC偏置電平(選項E4991A-001): +/- 40V或+/- 50 mA

多功能

Windows風格的用戶界面

內置VBA編程功能

通過局域網接口傳輸數據

多功能測量選項

電介質/磁性材料測量(選項E4991A-002)

可靠的片上測量(選項E4991A-010)

溫度特性測量(選項E4991A-007)