Agilent E4991A、Keysight E4991A、HP E4991A

射頻阻抗/材料分析儀，3 GHz

Keysight E4991A 射頻阻抗/材料分析儀提供終阻抗測量性能和強大的內(nèi)置分析功能。它將為評估 3 GHz 范圍內(nèi)組件的組件和電路設計的研發(fā)提供創(chuàng)新。E4991A 使用 RF-IV 技術(shù)，而不是反射測量技術(shù)，可在寬阻抗范圍內(nèi)進行準確的阻抗測量。基本阻抗精度為 +/-0.8%。高 Q 精度可實現(xiàn)低損耗元件分析。內(nèi)部合成器以 1 mHz 的分辨率掃描 1 MHz 至 3 GHz 的頻率。

材料評估： Agilent E4991A 提供寬頻率范圍（1 MHz 至 1 GHz）的完整介電/磁性材料測量解決方案。

晶圓上測量： Keysight E4991A-010（安捷倫）探針臺連接套件使我們能夠輕松地將 Keysight E4991A（安捷倫）連接到 Cascade Microtech 的射頻探針系統(tǒng)，以進行晶圓上阻抗測量。

溫度特性評估：溫度特性測試套件 E4991A-007 是元器件和材料溫度特性測量的全新解決方案。該選件可在 - 55°C 至 + 150°C 的寬溫度范圍內(nèi)提供的溫度特性分析能力，并具有強大的溫度漂移補償功能。 

Keysight E4991A 射頻阻抗/材料分析儀的主要技術(shù)指標包括：

基本精度：

+/- 0.8 % 基本精度

掃描參數(shù)

頻率：1 MHz 至 3 GHz

振蕩器電平：高達 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms

直流偏置電平（選項 E4991A-001）：+/- 40V 或 +/- 50 mA

多功能

Windows 風格的用戶界面

內(nèi)置VBA編程功能

通過 LAN 接口傳輸數(shù)據(jù)

多種測量選項

介電/磁性材料測量（選項 E4991A-002）

可靠的晶圓上測量（選件 E4991A-010）

溫度特性測量（選項 E4991A-007）